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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng):

華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào):HTDM-10

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-10-28

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試系統(tǒng),主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms、高速I(mǎi)/O 輸出控制。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試系統(tǒng)

型號(hào):HTDM-10

多通道介電測(cè)試系統(tǒng)主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms、高速I/O 輸出控制。基于 IM3570 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測(cè)試系統(tǒng)(發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn),與 LCR 多路測(cè)試軟件 CN040 組合,可用于多通道介電與電阻測(cè)量,也可適用于電子零件和傳感器的研究開(kāi)發(fā)。)


PC 軟件

LCR 多路測(cè)試軟件

掃描、比較器

針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件(量程、頻率、比較器等)可某個(gè)通道的 ON OFF

可循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試

同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件

OPEN&SHORT 補(bǔ)償

可對(duì)應(yīng)各通道的開(kāi)短路補(bǔ)償

如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間,在軟件內(nèi)進(jìn)行了開(kāi)短路補(bǔ)償計(jì)算,可維持高速的掃描時(shí)間

數(shù)據(jù)保存

掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存

華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試系統(tǒng)

華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試系統(tǒng)

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